专利名称：一种材料法向光谱发射率测量装置专利类型：发明专利
发明人：方会双,杨莉萍,钟秋,陶冶,李会东,徐子君,汪文兵,雒
彩云
申请号：CN201711123816.3申请日：20171114公开号：CN109781275A公开日：20190521
摘要：本发明涉及一种材料法向光谱发射率测量装置，具备：腔体，设置于所述腔体内的两个相对称且开口相向的部分椭圆形状的反射罩、两个红外加热器、和样品，两个所述反射罩具有一个共用焦点，所述样品设于所述共用焦点处，所述两个红外加热器分别设于两个所述反射罩的非共用焦点处；设置于与所述样品正对的所述腔体的顶部或/和底部的观测窗口；设置于所述腔体外与所述观测窗口对应位置处的光学系统；与所述光学系统连用的傅立叶红外光谱仪；与所述傅立叶红外光谱仪连接的计算机。本装置能测量的固体样品温度可达到2000K，熔体样品温度1373K。光谱范围0.25‑25μm（KBr窗口片）。
申请人：中国科学院上海硅酸盐研究所,中国科学院大学
地址：200050 上海市长宁区定西路1295号
国籍：CN
代理机构：上海瀚桥专利代理事务所(普通合伙)
更多信息请下载全文后查看
因篇幅问题不能全部显示，请点此查看更多更全内容