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氮化物半导体元件及其制造方法[发明专利]

来源:世旅网
专利内容由知识产权出版社提供

专利名称:氮化物半导体元件及其制造方法专利类型:发明专利

发明人:安杖尚美,横川俊哉,长谷川义晃申请号:CN200580011771.X申请日:20051013公开号:CN1943084A公开日:20070404

摘要:本发明提供一种氮化物半导体元件,是具备:具有上面及下面的基板(1)、和由基板(1)的上面支撑的半导体叠层构造(40),基板(1)及半导体叠层构造(40)至少具有2个解理面的氮化物半导体元件。具备与2个解理面中的任意一个相接的至少一个解理引发构件(3),解理引发构件(3)的与解理面平行的方向的尺寸小于基板(1)的上面的与解理面平行的方向的尺寸。

申请人:松下电器产业株式会社

地址:日本大阪府

国籍:JP

代理机构:中科专利商标代理有限责任公司

代理人:李贵亮

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