专利名称：LED芯片颗粒老化检测装置专利类型：发明专利
发明人：朱纪军,洪思忠,宋召海,左敦稳,张微微,孙姝婧,邓文
凤,于航,朱琳
申请号：CN201110292603.X申请日：20110930公开号：CN102508139A公开日：20120620
摘要：一种LED芯片颗粒老化检测装置，它包括PCB电路板（1）和LED灯罩（3），LED芯片颗粒（8）安装在LED灯罩（3）中并与PCB电路板（1）电气连接，其特征是在所述的LED灯罩（3）安装在密封的老化装置壳体（11）中，在LED芯片颗粒（8）的两侧各设有一个测温热电偶（2，7），在LED芯片颗粒（8）与PCB电路板（1）之间安装有测温热电偶（12），在壳体（1）中、LED灯罩（3）正对LED芯片颗粒（8）的正上方安装有光照度检测仪（5），在壳体（11）中还安装有热风装置（4），所述的PCB电路板（1）、测温热电偶（2，7，12）、光照度检测仪（5）和热风装置（4）均通过数据总线（9）与计算机（10）相连。本发明解决了市场急需，为LED颗粒快速老化提供了检测手段，它具有结构简单，制造、检测方便的优点。
申请人：滨州市甘德电子科技有限公司
地址：256600 山东省滨州市高新区高创服务中心1号楼
国籍：CN
代理机构：南京天华专利代理有限责任公司
代理人：瞿网兰
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