光脉冲红外热成像测量涂层厚度的方法[发明专利]

来源：世旅网

专利内容由知识产权出版社提供

专利名称：光脉冲红外热成像测量涂层厚度的方法专利类型：发明专利

发明人：唐庆菊,齐立涛,刘元林,芦玉梅,张志平申请号：CN201310455288.7申请日：20130929公开号：CN103471513A公开日：20131225

摘要：光脉冲红外热成像测量涂层厚度的方法，涉及一种测量涂层厚度的方法。为了解决目前采用测量涂层厚度的方法对测量的材料特性具有局限性的问题。采用脉冲加热设备在两种不同的脉冲强度下对被测涂层结构构件进行加热，并使用红外热像仪在相同采样频率f下采集被测涂层结构构件表面的热图序列T(x,y,N)和T(x,y,N)；将获得的两个热图序列相减，求得热波信号△T=T(x,y,N)-T(x,y,N)；对所有像素点的热波信号与采集帧数之间的关系进行线性拟合，得到△T(x,y,N)=aN+b；根据获得的a和b，结合公式求出被测涂层结构构件的涂层厚度e。它用于测量涂层结构构件的涂层厚度。

申请人：黑龙江科技大学

地址：150022 黑龙江省哈尔滨市松北区浦源路2468号

国籍：CN

代理机构：哈尔滨市松花江专利商标事务所

代理人：张利明

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